C-BW4HANA-20-JPN試験問題解説集 資格取得

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QUESTION NO: 1
ピクセル精度のフォーマットされたレポートを作成するためにどのSAPツールを提案します
か?
A.SAP Lumira、ディスカバリーエディション
B.SAP Analysis for OLAP
C.SAP Crystal Reports for Enterprise
D.SAP Analytics Cloud
Answer: C

QUESTION NO: 2
特定のデータターゲットに対してデルタ差分トリガー操作を実行するとどうなりますか?
A.デルタキューからのデータが抽出され、データターゲットにマージされます。
B.新しいデータと既にロードされているデータの間の差分が削除されます。
C.データは、デルタストアからメインストアに転送されます。
D.デルタキューの変更前と変更後のイメージがマージされます。
Answer: C

QUESTION NO: 3
いつ外部階層を使用することをお勧めしますか?注:この質問には3つの正解があります。
A.階層構造は時間に依存します。
B.構造には数式が含まれます。
C.構造は行特性の順序によって異なります。
D.構造はソースシステムに存在します。
E.クエリデータは階層ノードに制限されます。
Answer: A D E

QUESTION NO: 4
SAP
HANAデータモデルを検証する必要があります。データプレビュー機能を使用するには、何
を確認する必要がありますか?
A._SYS_BICユーザーがシステムに作成され、ランタイム情報が_SYS
STATISTICSに書き込まれます。
B.SYSTEMユーザーとして接続しており、すべてのオブジェクト権限がこのSYSTEMユーザ
ーに割り当てられています。
C._SYS_REPOユーザーには、目的のスキーマに割り当てられた十分なオブジェクト権限が
必要です。
D.コンテンツパッケージには、SYS
REPOユーザーに十分なリポジトリ権限が割り当てられています。
Answer: C

QUESTION NO: 5
SAP BW /
4HANAでデータレイヤーのモデリングを推奨する理由は何ですか?注:この質問には2つの
正解があります。
A.データレイアウトを事前定義するには
B.スナップショット要件を満たすため
C.変更されたエントリをすぐに表示するには
D.さまざまなソースからのデータを均質化およびクレンジングする
Answer: B D

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Updated: May 28, 2022

C-BW4HANA-20-JPN試験問題解説集 - Sap C-BW4HANA-20-JPN日本語的中対策 & Sap Certified Application Associate Reporting Modeling And Data Acquisition With Sap Bw 4Hana 2.X C Bw4Hana 20日本語版

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試験コード:C-BW4HANA-20-JPN
試験名称:SAP Certified Application Associate - Reporting, Modeling and Data Acquisition with SAP BW/4HANA 2.x (C-BW4HANA-20日本語版)
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問題と解答:全 80
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試験名称:SAP Certified Application Associate - Reporting, Modeling and Data Acquisition with SAP BW/4HANA 2.x (C-BW4HANA-20日本語版)
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