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SAP C-BW4HANA-20-JPN最新問題 - IT認定試験に合格するのは難しいと思いますか。

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C-BW4HANA-20-JPN PDF DEMO:

QUESTION NO: 1
ピクセル精度のフォーマットされたレポートを作成するためにどのSAPツールを提案します
か？
A.SAP Lumira、ディスカバリーエディション
B.SAP Analysis for OLAP
C.SAP Crystal Reports for Enterprise
D.SAP Analytics Cloud
Answer: C

QUESTION NO: 2
特定のデータターゲットに対してデルタ差分トリガー操作を実行するとどうなりますか？
A.デルタキューからのデータが抽出され、データターゲットにマージされます。
B.新しいデータと既にロードされているデータの間の差分が削除されます。
C.データは、デルタストアからメインストアに転送されます。
D.デルタキューの変更前と変更後のイメージがマージされます。
Answer: C

QUESTION NO: 3
いつ外部階層を使用することをお勧めしますか？注：この質問には3つの正解があります。
A.階層構造は時間に依存します。
B.構造には数式が含まれます。
C.構造は行特性の順序によって異なります。
D.構造はソースシステムに存在します。
E.クエリデータは階層ノードに制限されます。
Answer: A D E

QUESTION NO: 4
SAP
HANAデータモデルを検証する必要があります。データプレビュー機能を使用するには、何
を確認する必要がありますか？
A._SYS_BICユーザーがシステムに作成され、ランタイム情報が_SYS
STATISTICSに書き込まれます。
B.SYSTEMユーザーとして接続しており、すべてのオブジェクト権限がこのSYSTEMユーザ
ーに割り当てられています。
C._SYS_REPOユーザーには、目的のスキーマに割り当てられた十分なオブジェクト権限が
必要です。
D.コンテンツパッケージには、SYS
REPOユーザーに十分なリポジトリ権限が割り当てられています。
Answer: C

QUESTION NO: 5
SAP BW /
4HANAでデータレイヤーのモデリングを推奨する理由は何ですか？注：この質問には2つの
正解があります。
A.データレイアウトを事前定義するには
B.スナップショット要件を満たすため
C.変更されたエントリをすぐに表示するには
D.さまざまなソースからのデータを均質化およびクレンジングする
Answer: B D

たとえば、ベストセラーのSAP　CompTIA SY0-701-JPN問題集は過去のデータを分析して作成ます。 CompTIA SY0-701 - NewValidDumpsが提供した問題と解答はIT領域のエリートたちが研究して、実践して開発されたものです。 この問題集の合格率は高いので、多くのお客様からCisco 350-401J問題集への好評をもらいました。 君がSAPのPMI PMP問題集を購入したら、私たちは一年間で無料更新サービスを提供することができます。 CompTIA CV0-003J - NewValidDumpsにたくさんのIT専門人士がいって、弊社の問題集に社会のITエリートが認定されて、弊社の問題集は試験の大幅カーバして、合格率が１００％にまで達します。

Updated: May 28, 2022