そして、C-BW4HANA-20-JPN受験記試験参考書の問題は本当の試験問題とだいたい同じことであるとわかります。C-BW4HANA-20-JPN受験記試験参考書があれば,ほかの試験参考書を勉強する必要がないです。多分、C-BW4HANA-20-JPN受験記テスト質問の数が伝統的な問題の数倍である。 SAPのC-BW4HANA-20-JPN受験記認定試験にどうやって合格するかということを心配していますか。確かに、C-BW4HANA-20-JPN受験記認定試験に合格することは困難なことです。 SAPのC-BW4HANA-20-JPN受験記の認定試験は君の実力を考察するテストでございます。

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QUESTION NO: 1
いつ外部階層を使用することをお勧めしますか？注：この質問には3つの正解があります。
A.階層構造は時間に依存します。
B.構造には数式が含まれます。
C.構造は行特性の順序によって異なります。
D.構造はソースシステムに存在します。
E.クエリデータは階層ノードに制限されます。
Answer: A D E

QUESTION NO: 2
SAP
HANAデータモデルを検証する必要があります。データプレビュー機能を使用するには、何
を確認する必要がありますか？
A._SYS_BICユーザーがシステムに作成され、ランタイム情報が_SYS
STATISTICSに書き込まれます。
B.SYSTEMユーザーとして接続しており、すべてのオブジェクト権限がこのSYSTEMユーザ
ーに割り当てられています。
C._SYS_REPOユーザーには、目的のスキーマに割り当てられた十分なオブジェクト権限が
必要です。
D.コンテンツパッケージには、SYS
REPOユーザーに十分なリポジトリ権限が割り当てられています。
Answer: C

QUESTION NO: 3
特定のデータターゲットに対してデルタ差分トリガー操作を実行するとどうなりますか？
A.デルタキューからのデータが抽出され、データターゲットにマージされます。
B.新しいデータと既にロードされているデータの間の差分が削除されます。
C.データは、デルタストアからメインストアに転送されます。
D.デルタキューの変更前と変更後のイメージがマージされます。
Answer: C

QUESTION NO: 4
SAP BW /
4HANAでデータレイヤーのモデリングを推奨する理由は何ですか？注：この質問には2つの
正解があります。
A.データレイアウトを事前定義するには
B.スナップショット要件を満たすため
C.変更されたエントリをすぐに表示するには
D.さまざまなソースからのデータを均質化およびクレンジングする
Answer: B D

QUESTION NO: 5
なぜ仮想データマート層を推奨するのですか？注：この質問には2つの正解があります。
A.クエリとレポートのインターフェイスを構築するには
B.結合操作またはユニオン操作を使用して異なるインフォプロバイダーを組み合わせるには
C.集中管理されたデータをローカルファイルと組み合わせるには
D.復興のための企業の記憶を構築する
Answer: A B

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Updated: May 28, 2022