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あなたは自分の知識レベルを疑っていて試験の準備をする前に詰め込み勉強しているときに、自分がどうやって試験に受かることを確保するかを考えましたか。心配しないでください。
QUESTION NO: 1
ピクセル精度のフォーマットされたレポートを作成するためにどのSAPツールを提案します
か?
A.SAP Lumira、ディスカバリーエディション
B.SAP Analysis for OLAP
C.SAP Crystal Reports for Enterprise
D.SAP Analytics Cloud
Answer: C
QUESTION NO: 2
特定のデータターゲットに対してデルタ差分トリガー操作を実行するとどうなりますか?
A.デルタキューからのデータが抽出され、データターゲットにマージされます。
B.新しいデータと既にロードされているデータの間の差分が削除されます。
C.データは、デルタストアからメインストアに転送されます。
D.デルタキューの変更前と変更後のイメージがマージされます。
Answer: C
QUESTION NO: 3
いつ外部階層を使用することをお勧めしますか?注:この質問には3つの正解があります。
A.階層構造は時間に依存します。
B.構造には数式が含まれます。
C.構造は行特性の順序によって異なります。
D.構造はソースシステムに存在します。
E.クエリデータは階層ノードに制限されます。
Answer: A D E
QUESTION NO: 4
SAP
HANAデータモデルを検証する必要があります。データプレビュー機能を使用するには、何
を確認する必要がありますか?
A._SYS_BICユーザーがシステムに作成され、ランタイム情報が_SYS
STATISTICSに書き込まれます。
B.SYSTEMユーザーとして接続しており、すべてのオブジェクト権限がこのSYSTEMユーザ
ーに割り当てられています。
C._SYS_REPOユーザーには、目的のスキーマに割り当てられた十分なオブジェクト権限が
必要です。
D.コンテンツパッケージには、SYS
REPOユーザーに十分なリポジトリ権限が割り当てられています。
Answer: C
QUESTION NO: 5
SAP BW /
4HANAでデータレイヤーのモデリングを推奨する理由は何ですか?注:この質問には2つの
正解があります。
A.データレイアウトを事前定義するには
B.スナップショット要件を満たすため
C.変更されたエントリをすぐに表示するには
D.さまざまなソースからのデータを均質化およびクレンジングする
Answer: B D
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Updated: May 28, 2022
試験コード:C-BW4HANA-20-JPN
試験名称:SAP Certified Application Associate - Reporting, Modeling and Data Acquisition with SAP BW/4HANA 2.x (C-BW4HANA-20日本語版)
最近更新時間:2024-05-12
問題と解答:全 80 問
SAP C-BW4HANA-20-JPN 試験関連情報
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