CTFL_Syll2011_D日本語版参考資料 資格取得

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QUESTION NO: 1
Which of the following defect types are LEAST likely to be discovered when using static analysis tools?
A. Variables that are never used
B. Coding standard violations
C. Memory leaks
D. Uncalled functions and procedures
Answer: C

QUESTION NO: 2
Which of the following activities is appropriate to the test planning stage?
A. Analysing the test basis
B. Assigning resources for the planned activities
C. Designing the test environments
D. Writing a test execution schedule
Answer: B

QUESTION NO: 3
Which of the test cases below will exercise both outcomes from decision 2? [K3] Refer to the exhibit
A. P = 24, Q = 20, P=24, Q=25
B. P = 36, Q = 36, P=37, Q=35
C. P = 42, Q = 43, P=42, Q=42
D. P = 37, Q = 36, P=35, Q=36
Answer: B

QUESTION NO: 4
In the above State Table, which of the following represents an invalid transition?
A. Event C from S3
B. Event E from S4
C. Event B from S2
D. Event D from S4
Answer: C

QUESTION NO: 5
Which of the following is a valid reason for writing test cases based on experience and intuition? [K1]
A. Use of formal techniques requires expensive training
B. Only experience can ensure all functionality is covered
C. Tests based on experience and intuition can supplement formal techniques
D. Formal techniques require the use of expensive tools
Answer: C

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Updated: May 27, 2022

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試験コード:CTFL_Syll2011_D
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ISQI CTFL_Syll2011_D 的中率

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