C-TPLM40-65対応資料 資格取得

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C-TPLM40-65 PDF DEMO:

QUESTION NO: 1
Statistical process control: Standardized statistical value for evaluation the quality of an inspection lot.
The statistical value always has a specific reference criterion (such as a material or the material/vendor combination.)
A. Incorrect
B. Correct
Answer: A

QUESTION NO: 2
Which statements are correct? (More than one answers are true)
A. The MPN profile defines how you can work with MPN materials in the procurement process.
B. Stock posting as generally performed in the Quality unit of measure of the material.
C. An manufacturer part number profile (MPN profile) is assigned to an internal material in the material master.
D. The function group QEVA_ALTOUANTITY_INPUT contains coding that makes it possible to enter quantities in alternative wells of measure
Answer: A,C

QUESTION NO: 3
The inspection types and their process parameters can be assigned to the material in the material master using the inspection setup in the QM view.
A. Correct
B. Incorrect
Answer: B

QUESTION NO: 4
A notification item consists which of the following elements?
A. Assembly/BA of material item
B. Catalog entry for defect location
C. Number of defects Identified
D. Catalog entry for defect 4pe (defect class)
Answer: B,C,D

QUESTION NO: 5
Which statement is correct?
A. Test equipment calibration takes place at multiple unit level (equipment)
B. Test equipment calibration takes place at single unit level (equipment)
Answer: B

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Updated: Jan 13, 2021

C-TPLM40-65対応資料、C-TPLM40-65技術試験 - Sap C-TPLM40-65日本語講座

PDF問題と解答

試験コード:C-TPLM40-65
試験名称:SAP Certified Application Associate - Quality Management with SAP ERP 6.0 EHP5
最近更新時間:2021-01-15
問題と解答:全 214
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問題と解答:全 214
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試験名称:SAP Certified Application Associate - Quality Management with SAP ERP 6.0 EHP5
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