CTFL日本語版試験勉強法 資格取得

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QUESTION NO: 1
Faults found by users are due to..?
A. Poor quality software
B. Poor software and poor testing
C. Bad luck
D. Insufficient time for testing
Answer: B

QUESTION NO: 2
Which of the following is a valid drawback of independent testing? 1 credit
A. Developer and independent testing will overlap and waste resources.
B. Developers loose the sense of responsibility and independent testers may become a bottleneck.
C. Independent testers need extra education and always cost more.
D. Independent testers will become a bottleneck and introduce problems in incident management.
Answer: B

QUESTION NO: 3
When what is visible to end-users is a deviation from the specific or expected behavior, this is called..?
A. An error
B. A fault
C. A failure
D. A defect
E. A mistake
Answer: C

QUESTION NO: 4
Incorrect form of Logic coverage is:
A. Statement Coverage
B. Pole Coverage
C. Condition Coverage
D. Path Coverage
Answer: B

QUESTION NO: 5
Which of the following describes structure-based (white-box) test case design techniques?
A. Test cases are derived systematically from models of the system.
B. Test cases are derived systematically from the tester's experience.
C. Test cases are derived systematically from the delivered code.
D. Test cases are derived from the developers' experience.
Answer: C
Explanation:
Answer (A) relates to specification-based testing, answer (B) relates to experience-based testing and answer (D) could relate either to debugging or to experience-based techniques.

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Updated: May 27, 2022

CTFL日本語版試験勉強法 & CTFL技術内容 - CTFL合格内容

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